مديرفنی آزمایشگاه پرتو ايكس: ليلا تولمي

آدرس ايميل: Xray.lab@ippi.ac.ir

تلفن تماس: 48662136-021   


آزمایشگاه پرتو ايكس

دستگاه XRD  مدل D5000 ساخت شرکت SIEMENS   آلمان پراكنش اشعه ايكس يك تكنيك آناليز با رنج وسيعي از كاربردها مي باشد. علت اينكه اخيرااين روش اهميت بسياري پيدا نموده است اين است كه اين روش غير مخرب پلي به دنياي نانو مي باشد. اين تكنيك در حيطه علوم، تحقيقات وكنترل كيفي صنايع شيشه، سيمان، زمين شناسي، مواد دارويي و در كاتاليستها، پليمرها، فلزات و مواد نانو كاربرد هاي بسيار گسترده اي دارد. اين تكنيك  هم در شناسايي كيفي وهم در شناسايي كمي قابل كاربرد مي باشد. شناسايي كيفي شامل شناسايي فاز است كه اين كار از طريق مقايسه پيكهاي بدست آمده از نمونه با اطلاعات موجود در كتابخانه نرم افزار انجام مي شود. شناسايي كمي هم شامل تعيين فاصله بين صفحات كريستالي و تعيين درجه كريستالينيتي مي باشد.

دقت آزمون

قدرت تفكيك

گستره اندازه گيري (2θ)

نام تجهير

±0.02

درجه0.001

درجه 5-70

XRD

استاندارد هاي انجام آزمون:

 BSEN 13925-2005 , ASTM D 5380 -93(2014)

نمونه مناسب جهت انجام آزمون :

نمونه ها بايد پودري (حدود 1 گرم ) با انداره تقريبي ذرات 45 ميكرون باشند.بايد دقت شود كه هنگام لمس پودر نبايد زبري احساس شود .

براي نمونه هاي غير پودري (شيت ، فيلم ، الياف و.....) بايد دقت شود كه دسترسي به سطحي صاف و بدون خلل و فرج امكانپذير باشد . در صورت وجود نمونه هايي به شكل شيت و فيلم مربعي با ابعاد 3cm ×3cm مناسب مي باشد .

اتريشHECUS  ساخت شركت S3-micropix  مدل SWAXSدستگاه تفرق اشعه ايكس مي تواند در سه واحد طول كاربرد داشته باشد : 1، 10 و100 نانومتر به ترتيب در روشهاي  wide angle   ، small angle ، ultra small angle .ساختارها در واحدهاي طولي بزرگتر از يك واحد سلولي (تقريبا 10 نانومتر بجاي 1 نانومتر) مي توانند به روش SAXS  مورد مطالعه قرار بگيرند. لازم به ذكر است كه متدولوژي براي اين آناليز به طور گسترده اي توسعه يافته و در هر كتاب استانداردي يافت مي شود. همانطور كه  WAXD  براي مطالعه جهت گيري كريستالها و قرار گرفتن زنجيرها  داخل اين كريستالها مي تواند كمك كند ، SAXS براي مطالعه نوسانات دانسيته الكتروني كه بدليل ناهمگوني ساختماني در فواصل خيلي بزرگتر اتفاق مي افتد كاربرد دارد .  SAXS  با اندازه گيري پارامترهايي مثل صفحات و ارتفاع ، قطر لايه لايه و ضخامت لايه گذار بين حوزه  كريستالي و آمورف به طور گسترده براي مطالعه ساختمانهاي لايه اي  به كار برده مي شود . در آناليز فيبرها ، SAXS ميتواند اطلاعاتي در مورد مورفولوژي رشته ها و قطر ليفها ، جهت گيري و ناهمگوني در ابعاد بزرگ مثل حفره ها و خلل و فرجها و ترك ها وشكافها بدهد. اين اطلاعات تا حدودي مشابه آنچه است كه از TEM  بدست مي آيد اما با يك تفاوت بزرگ  كه SAXS  نياز به هيچ نوع آماده سازي نداردو اطلاعات بدست آمده به اين روش مربوط به مساحت متوسطي در حدود بيشتر از 1/0 ميلي متر مربع مي باشد . همچنين SAXS  براي مطالعه تركيب (Conformation)  ، سايز و ديناميك پليمرها در محلولها و ژل ها نيز بكار برده مي شود.

قدرت تفكيك

گستره اندازه گيري(2θ)

نام تجهير

درجه0.01

درجه 0-8

SWAXS

نمونه مناسب جهت انجام آزمون :

نمونه هاي پودري : بهتر است كه نرم و همگن باشند.

نمونه هاي مايع:  بايد امولسون پايدار باشند.

نمونه هاي شيت:  در ابعاد 2cm × 2 cm، ضخامت بستگي به ضريب جذب جرمي هر ماده دارد.

نمونه هاي ژل يا خمير

نمونه هاي فيلمي در ابعاد 2cm × 2cm